真空衰減泄漏測(cè)試?yán)碚?/h1>

2024-04-07 09:45

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A.1真空衰減泄漏測(cè)試是將供試包裝暴露于外部真空來(lái)進(jìn)行的。施加到包裝的壓力差使氣體通過(guò)包裝上的泄漏通道釋出。如果包裝內(nèi)含有液體，真空度低于液體的汽化壓,也將使泄漏通道中或其附近的液體揮發(fā)。在一個(gè)測(cè)試周期中,由一只或多只壓力傳感器監(jiān)視測(cè)試腔中的壓力升高,是由于包裝內(nèi)頂空氣體和/或揮發(fā)液體通過(guò)包裝上的泄漏向外遷移加背景噪聲的結(jié)果所致。泄漏檢測(cè)需要真空衰減超過(guò)背景噪聲。背景噪聲衰減可能是因包裝暴露于真空下發(fā)生膨脹或測(cè)試腔內(nèi)或測(cè)試系統(tǒng)管路中存有微量氣體或水蒸氣所致。通過(guò)對(duì)測(cè)試腔的設(shè)計(jì)改進(jìn)、調(diào)節(jié)壓力或時(shí)間參數(shù),或在供試樣品裝入測(cè)試腔前將測(cè)試腔暴露于真空中一段時(shí)間可使背景噪聲至最少。

A.2含透氣屏障蓋材的包裝可物理罩住或堵住包裝的透氣屏障表面,使得氣體通過(guò)透氣屏障材料釋出的量為最小后進(jìn)行測(cè)試。透氣屏障蓋材上的缺陷不能被檢測(cè),但密封區(qū)或托盤(pán)自身上的缺陷能被檢測(cè)。從透氣屏障蓋材包裝產(chǎn)生的真空衰減,可能包括來(lái)自蓋材與罩堵表面之間的氣體所形成的背景噪聲,或蓋材與托盤(pán)密封結(jié)合處所通過(guò)的橫向氣流。

A.3典型的測(cè)試循環(huán)是,先將供試包裝放入測(cè)試腔并罩住或堵住任何透氣屏障包裝表面。對(duì)閉合后的測(cè)試腔抽真空。在事先確定的時(shí)間段終點(diǎn),使其達(dá)到初始日標(biāo)真空,將測(cè)試腔與真空源隔離。經(jīng)歷一個(gè)短暫的平衡期后,在一個(gè)預(yù)先確定的測(cè)試時(shí)間內(nèi)監(jiān)測(cè)測(cè)試腔內(nèi)的真空度。對(duì)于許多包裝,從測(cè)試腔閉合到完成測(cè)試周期可能只需要幾秒鐘的時(shí)間。以下描述了測(cè)試周期的時(shí)間、壓力以及泄漏測(cè)試接受準(zhǔn)則等各種臨界測(cè)試參數(shù)。圖A.1示出了預(yù)期的有各種泄漏測(cè)試不通過(guò)模式的典型測(cè)試周期。

 注:以下條文中所用的臨界試驗(yàn)參數(shù)的術(shù)語(yǔ)可能與泄漏制造商用的術(shù)語(yǔ)不同,但定義保持一致。